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光伏组件的隐裂!
日期:2023-08-24   [复制链接]
责任编辑:sy_yanyu 打印收藏评论(0)[订阅到邮箱]
用一句话来概括,就是说隐裂是光伏组件的缺陷。

隐裂是指电池片(组件)受到较大的机械或热应力时,可能在电池单元产生肉眼不易察觉的隐性裂纹。

近几年,晶硅组件厂家为了降低成本,晶硅组件越做越薄,从而降低了电池片防止机械破坏的能力,从而导致了在运输和安装过程中组件隐裂的产生,下面让我们详细的了解下组件的隐裂。

1、隐裂的形状类型

根据电池片隐裂的形状,可分为5类:树状裂纹、综合型裂纹、斜裂纹、平行于主栅线、垂直于栅线和贯穿整个电池片的裂纹。

2、隐裂对光伏组件的影响

不同的隐裂,对电池片功能造成的影响也是不一样的。先来看一张电池片的放大图。

根据晶硅电池的结构,如上图,电池片产生的电流要依靠“表面的主栅线及垂直于主栅线的细栅线”搜集和导出。当隐裂导致细栅线断裂时,细栅线无法将收集的电流输送到主栅线,将会导致电池片部分甚至全部失效。

基于上述原因,我们可以看出对电池片功能影响最大的,是平行于主栅线的隐裂(第4类)。根据研究结果,50%的失效片来自于平行于主栅线的隐裂。

45°倾斜裂纹(第3类)的效率损失是平行于主栅线损失的1/4。

垂直于主栅线的裂纹(第5类)几乎不影响细栅线,因此造成电池片失效的面积几乎为零。

相比于晶硅电池表面的栅线,薄膜电池表面整体覆盖了一层透明导电膜,所以这也是薄膜组件无隐裂的一个原因。

有研究显示,组件隐裂严重时,会导致组件功率的损失,但是损失的大小并不一定。裂纹对组件电性能的影响小,而裂片对组件功率损失非常大;老化试验,即组件在工作或非工作的情况下,温、湿度变化可能会引起电池片隐裂的加剧;组件中没有隐裂的电池片比隐裂的电池片抗老化能力强。

3、检测隐裂的手段

EL(Electroluminescence,电致发光)是简单有效的检测隐裂的方法。其检测原理如下。

电池片的核心部分是半导体PN结,在没有其它激励(例如光照、电压、温度)的条件下,其内部处于一个动态平衡状态,电子和空穴的数量相对保持稳定。

如果施加电压,半导体中的内部电场将被削弱,N区的电子将会被推向P区,与P区的空穴复合(也可理解为P区的空穴被推向N区,与N区的电子复合),复合之后以光的形式辅射出去,即电致发光。

当被施加正向偏压之后,晶体硅电池就会发光,波长1100nm左右,属于红外波段,肉眼观测不到。因此,在进行EL测试时,需利用CCD相机辅助捕捉这些光子,然后通过计算机处理后以图像的形式显示出来。

给晶硅组件施加电压后,所激发出的电子和空穴复合的数量越多,其发射出的光子也就越多,所测得的EL图像也就越亮;如果有的区域EL图像比较暗,说明该处产生的电子和空穴数量较少(例如图3中电池中部),代表该处存在缺陷(复合中心);如果有的区域完全是暗的,代表该处没有发生电子和空穴的复合(图3和图4中红线所标处),也或者是所发光被其它障碍所遮挡(图3和图4主栅线处),无法检测到信号。

4、小结

1)隐裂种类众多,但不是所有的隐裂都会对电池片有影响;

2)组件生产、运输、安装和维护过程中,考虑到晶硅组件的易裂特征,需要在安装电站的各个过程注意并改进作业流程,尽量减少组件隐裂的产生。

3)对于检测隐裂,目前EL是最有效的方法。

4)导致组件隐裂的原因众多,大家要弄清楚原因后再追究责任,不能盲目听信他人之言。 

原标题:光伏组件的隐裂!
 
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来源:光伏联播
 
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